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    產品中心

    紅外應力雙折射測量系統

    • 型 號:WPA-NIR
    • 訪問次數:1798
    • 更新時間:2023-08-30
    • 價   格:

    紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應力評估很難實現,為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

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    紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR主要特點:

    硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應力評估很難實現,為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應力分布。

    • 紅外波長的雙折射/相位差面分布測量

    • 硫系、紅外透明樹脂等的光學畸變評估

    • 小型、簡単操作、高速測量

    • WPA-NIR能高速的/分析波長為850nm940nm的雙折射分布

    • 安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View

    • 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區域內的平均值等的定量數據

    • 可搭配流水線對應的『外部控制選配』,也可應用于量產現場

    紅外應力雙折射測量系統WPA-NIR主要功能

    • NIR波長僅需操作鼠標數秒內就能獲取高密度的雙折射/相位差信息

    • 測量數據的保存/讀取簡單快捷

    • 全部的測量結果都可以做保存/讀取,易于跟過去的測量結果做比較等

    • 豐富的圖形創建功能

    • 可以自由制作線圖形和直方圖

    • 測量結果可以在一個圖形上做比較,也可以用CSV格式輸出  

    紅外應力雙折射測量系統主要參數

    實際測量對比:

     

     

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